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モジュール検査システム MEI
モジュール検査システム MEI

クラック検査、電極短絡検査、セル受光面欠陥検査を行う装置です。
オプションで配線部短絡による発熱検査に対応することも可能です。
インライン方式またはオフライン方式に対応します。

仕様

モジュール種類 結晶/薄膜モジュール
モジュールサイズ 125mm□・156mm□
72直までのモジュールに対応
検査項目 ・クラック検査
・電極短絡検査
・マイクロクラック検査
・セル受光面欠陥検査
・配線部短絡による発熱検査(オプション)
装置寸法 4300(W)×2700(D)×3000(H) mm