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モジュール検査システム MEI
モジュール検査システム MEI

クラック検査、電極短絡検査、セル受光面欠陥検査を行う装置です。
オプションで配線部短絡による発熱検査に対応することも可能です。
インライン方式またはオフライン方式に対応します。

特徴

目に見えない内部の状態を瞬時に可視化
量産工程で不良品を判別、品質評価・開発部門で故障を解析
製品歩留まり、信頼性を向上、また高変換効率製品の市場投入に貢献